{"id":3837,"date":"2021-07-09T14:53:48","date_gmt":"2021-07-09T12:53:48","guid":{"rendered":"http:\/\/www.lac.universite-paris-saclay.fr\/?page_id=3837"},"modified":"2025-02-27T11:59:24","modified_gmt":"2025-02-27T10:59:24","slug":"sources-dions-et-delectrons","status":"publish","type":"page","link":"http:\/\/www.lac.universite-paris-saclay.fr\/?page_id=3837","title":{"rendered":"Sources d’ions et d’\u00e9lectrons"},"content":{"rendered":"
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Description<\/div>\n\t\t\t<\/div>
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Membres<\/div>\n\t\t\t<\/div><\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t
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Nous d\u00e9veloppons des sources d\u2019ions et d\u2019\u00e9lectrons bas\u00e9es sur l\u2019excitation et l\u2019ionisation des atomes de Rydberg par laser. L\u2019originalit\u00e9 de ces sources est le caract\u00e8re tr\u00e8s monocin\u00e9tique et corr\u00e9l\u00e9 des particules produites. Cela permet de produire un faisceau optimal avec de plus un contr\u00f4le total des trajectoires. Nous souhaitons l\u2019utiliser en microscopie ionique et \u00e9lectronique pour des applications en imagerie, spectroscopie ou implantation.<\/p>\n\n\n\n

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Op\u00e9rations de Recherche<\/span><\/h2><\/div><\/div><\/div>
\"SIEC<\/a><\/div>
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SIEC (Source d\u2019Ions et d\u2019Electrons Corr\u00e9l\u00e9s)<\/a><\/h3>
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\"FIBback<\/a><\/div>
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FIBback (Faisceau d\u2019ions focalis\u00e9s par contre-r\u00e9action d\u2019\u00e9lectrons corr\u00e9l\u00e9s)<\/a><\/h3>
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\"HREELM<\/a><\/div>
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HREELM (High-Resolution Electron-Energy-Loss Microscope )<\/a><\/h3>
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