Sources d’ions et d’électrons

Nous développons des sources d’ions et d’électrons basées sur l’excitation et l’ionisation des atomes de Rydberg par laser. L’originalité de ces sources est le caractère très monocinétique et corrélé des particules produites. Cela permet de produire un faisceau optimal avec de plus un contrôle total des trajectoires. Nous souhaitons l’utiliser en microscopie ionique et électronique pour des applications en imagerie, spectroscopie ou implantation.

Opérations de Recherche

SIEC (Source d’Ions et d’Electrons Corrélés)

FIBback (Faisceau d’ions focalisés par contre-réaction d’électrons corrélés)

HREELM (High-Resolution Electron-Energy-Loss Microscope )